L’Italian Demo Ride Tour, il ricco calendario di test ride gratuiti di Aprilia e Moto Guzzi, continua il proprio viaggio attraverso la Penisola, mettendo a disposizione di tutte le motocicliste e tutti i motociclisti le migliori proposte per il 2026, portandole direttamente nei luoghi della passione a due ruote.
Il prossimo appuntamento è in programma alla HAT Adventourfest Sestriere, sabato 27 e domenica 28 giugno: un’occasione imperdibile per testare a fondo, e in maniera totalmente gratuita, le novità di Aprilia e Moto Guzzi sulle magnifiche strade alpine che circondano il comune più alto d’Italia, il Sestriere, situato a oltre 2000 metri di quota. Cuore pulsante della manifestazione, diventata un punto di riferimento per tutti gli appassionati di adventouring e non solo, sarà l’HAT Village, allestito in Piazzale Kandahar al Sestriere: qui saranno presenti gli spazi Aprilia e Moto Guzzi, presso i quali prenotare facilmente il proprio test ride gratuito su strada, accompagnati da rider esperti e con il prezioso supporto della concessionaria ufficiale del Gruppo Piaggio Mo.Vi di Torino. L’accesso al Village è libero, e sarà possibile effettuare i test nella fascia oraria dalle 9 alle 19, sia sabato 27 sia domenica 28 giugno.
Sul fronte Aprilia saranno a disposizione le apprezzate sportive e naked di media cilindrata: RS 457 e Tuono 457, ideali per i motociclisti con patente A2, e l’apprezzatissima RS 660. Non manca la adventure bicilindrica Aprilia Tuareg, anche nella più specialistica versione Rally. Completa la gamma in prova la potente e raffinata hypernaked Tuono V4 Factory.
Lato Moto Guzzi, riflettori puntati sulla grande viaggiatrice Stelvio e sulla best seller V7, disponibile nella più dinamica e tecnologica versione V7 Sport. Non manca l’iconica travel enduro dell’Aquila, la V85, negli allestimenti V85 Strada e V85 TT. Tutte le informazioni e i dettagli, oltre al calendario delle prossime date dell’Italian Demo Ride Tour, sono disponibili alle pagine web:
aprilia.com/it_IT/mondo-
motoguzzi.com/it_IT/mondo-
